PCB電路板鍍金層厚度檢測儀 下照式微聚焦多準(zhǔn)型，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術(shù)，配合切換準(zhǔn)直器在檢測各微小及凹凸面樣品時(shí)檢出限更低，儀器壽命更長，性能更穩(wěn)定。X射線測厚儀

XTU-4C專業(yè)性能型膜厚儀 下照式微聚焦多準(zhǔn)型，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術(shù)，配合切換準(zhǔn)直器在檢測各微小及凹凸面樣品時(shí)檢出限更低，儀器壽命更長，性能更穩(wěn)定。X射線熒光測厚儀

XRF電鍍層測厚儀 高性價(jià)比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測試或自動(dòng)逐個(gè)檢測大量的小部件。

天瑞儀器，X熒光鍍層測厚儀 高性價(jià)比上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測試或自動(dòng)逐個(gè)檢測大量的小部件。

XTU-4C專業(yè)性能型膜厚儀 下照式微聚焦多準(zhǔn)型，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術(shù)，配合切換準(zhǔn)直器在檢測各微小及凹凸面樣品時(shí)檢出限更低，儀器壽命更長，性能更穩(wěn)定。X熒光射線鍍層測厚儀

XTU-4C專業(yè)性能型膜厚儀 下照式微聚焦多準(zhǔn)型，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術(shù)，配合切換準(zhǔn)直器在檢測各微小及凹凸面樣品時(shí)檢出限更低，儀器壽命更長，性能更穩(wěn)定。X射線鍍層測厚儀