毛細(xì)管聚焦X熒光鍍層測(cè)厚儀 高性?xún)r(jià)比上照式光譜測(cè)厚儀，對(duì)各類(lèi)鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè)檢測(cè)大量的小部件。半導(dǎo)體集成電路行業(yè)電鍍鉑厚度檢測(cè)儀

毛細(xì)管檢測(cè)電鍍鍍層厚度儀 高性?xún)r(jià)比上照式光譜測(cè)厚儀，對(duì)各類(lèi)鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè)檢測(cè)大量的小部件。半導(dǎo)體集成電路行業(yè)電鍍鉑厚度檢測(cè)儀

X熒光電鍍厚度檢測(cè)儀 X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。 X射線的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們?cè)O(shè)計(jì)出：膜厚測(cè)試儀也可稱(chēng)為膜厚測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。Micro Pioneer XRF-2020 鍍層測(cè)厚儀

電鍍厚度測(cè)試儀 X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。 X射線的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們?cè)O(shè)計(jì)出：膜厚測(cè)試儀也可稱(chēng)為膜厚測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。一六儀器膜厚儀電鍍廠鍍層厚度分析儀

電鍍厚度測(cè)試儀 X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。 X射線的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們?cè)O(shè)計(jì)出：膜厚測(cè)試儀也可稱(chēng)為膜厚測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。一六儀器膜厚儀 金屬電鍍鍍層厚度分析

電鍍厚度測(cè)試儀 X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。 X射線的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理，我們?cè)O(shè)計(jì)出：膜厚測(cè)試儀也可稱(chēng)為膜厚測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。一六儀器 X射線鍍層測(cè)厚儀XD1000