FISCHER（菲希爾）XAN120膜厚儀是一臺(tái)款現(xiàn)代化桌上X射線光譜儀（EDXRF）。它特別為快速無損地分析珠寶首飾、貴金屬而設(shè)計(jì)。這些首飾和貴金屬包括黃白金，鉑和銀，銠，硬幣以及所有的首飾合金和鍍層。
XAN? 120測量準(zhǔn)確，使用安全簡便，堅(jiān)固耐用節(jié)省維護(hù)費(fèi)用。而且，它符合標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號(hào)處理系統(tǒng)能達(dá)到*的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定。
無論您想測量未知樣品還是測定未知材料，XAN? 120 配合優(yōu)異的菲希爾 WinFTM? 運(yùn)行軟件都是您正確的選擇。
FISCHER（菲希爾）XAN120膜厚儀采用新改進(jìn)的基本參數(shù)法，無論是無標(biāo)準(zhǔn)片測量還是有標(biāo)準(zhǔn)片測量，都能快速并且準(zhǔn)確的獲得測量結(jié)果。為了簡化樣品放置，X射線源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN? 120 的底部，從而可以采用射線向上的測量技術(shù)。集成了含十字線、射線位置指示標(biāo)志、光亮及位置調(diào)節(jié)的視頻顯微系統(tǒng)，將使得樣品的放置和測量定位變得快捷而容易。現(xiàn)在您不再需要調(diào)節(jié)測量臺(tái)或是樣品臺(tái)——只需放下樣品即可開始測量。
可測量．單層．雙層，合金層等多種鍍層 

XDAL,XDVM菲希爾（FISCHER）膜厚儀,XRF鍍層厚度分析儀配創(chuàng)新的X射線光學(xué)系統(tǒng),專門測量極小的面積.電動(dòng)測量臺(tái),高能量解像半導(dǎo)體接收器,四個(gè)電動(dòng)準(zhǔn)直器.自動(dòng)切換，采用激光自動(dòng)對(duì)焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對(duì)焦時(shí)造成一起的損壞。可適用于各種樣品，從較厚的樣品（機(jī)械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等 符合標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號(hào)處理系統(tǒng)能達(dá)到*的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
菲希爾XUL（M）膜厚儀應(yīng)用于.五金,電鍍,端子.連接器.