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| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 環保,地礦,電子/電池,包裝/造紙/印刷,紡織/印染 |
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天瑞X射線熒光光譜儀EDX3600性能特點：
三重安全保護模式。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回歸程序。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
高信噪比的電子線路單元。
全元素測試專用X熒光分析軟件。
與傳統儀器相比，新增加的抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的版圖。
采用SDD硅漂移探測器，分辨率低至139ev，更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
提供多種準直器，直徑小達0.2mm，輕松實現精小部位的精確測試。
精選全球組件。
真空腔。
在分析低含量的輕元素時，使用真空泵設備把空氣抽出，使內部在真空狀態下對輕元素進行分析。
真空泵（選配）。
極限真空：6×10-2 帕轉速：1400 轉/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦。
天瑞X射線熒光光譜儀EDX3600技術指標：
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
測量對象狀態：粉末、固體、液體
同時分析元素：30種元素同時分析
元素含量分析范圍：1ppm-99.99%
能量分辨率為：140±5ev
測量時間：60s-200s（可調）
制冷方式：電制冷，無需任何耗材
環境溫度：10℃-30℃
環境濕度：35%-70%
輸入電壓：AC 110V/220V
管壓：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
樣品腔尺寸：334×500×80mm
外觀尺寸：670×533×855 mm
重量：80kg
標準配置：
美國AmptekSDD探測器；
數字多道分析器；
放大電路、高低壓電源、X光管；
計算機、打印機、真空泵（選配）、穩壓電源（選配）；
軟件：貴金屬分析軟件（標配）、鍍層分析軟件（選配）、有害元素分析軟件（選配）。
應用領域：
黃金、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測。可廣泛應用于珠寶首飾中輕元素的檢測。
分析元素：金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥、鈉、鎂、鋁、硅、磷、硫等。
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